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ParticleX 全自動顆粒分析系統(tǒng)主要用于雜質或顆粒物的綜合評估,可以自動獲取大量顆粒的微觀形貌 和成分信息,具體包括:
• 顆粒粒度分布
• 顆粒形貌分析
• 雜質成分檢測
• 高分辨率成像(8 nm 分辨率)
ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為基礎,結合自動控制系統(tǒng)以及強大的數據庫系 統(tǒng),可以全自動對雜質顆粒進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計,為客戶的研發(fā)以及生產提供快速、準確和可靠的定量數據支持。
ParticleX 全自動顆粒分析系統(tǒng)
產品參數
電子顯微鏡:200,000 倍
探測器:高靈敏度四分割背散射電子探測器
燈絲材料:1,500 小時 CeB6 燈絲
分辨率:優(yōu)于 10 nm
放置環(huán)境:采用專業(yè)防震設計,可擺放于普通實驗室或辦公室、廠房
加速電壓:4.8kV-20.5kV 連續(xù)可調
抽真空時間:小于 30 秒
能譜儀:可選配能譜儀
應用領域
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復納科學儀器 (上海) 有限公司 (Phenom-China),負責荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場的推廣和銷售,提供專業(yè)的技術支持和測試服務,飛納中國擁有專業(yè)的服務團隊,提供優(yōu)化的解決方案;飛納中國提出飛納學校 (Phenom University)的概念,為用戶提供從掃描電鏡基礎理論到 Level 5 應用工程師的進階培訓,在上海、北京、廣州設立了測試中心和售后服務中心,目前飛納在中國已經擁有接近 1000 名用戶。
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